上海恒平紫外可見分光光度計754

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參　數：
波長范圍:190-1100nm
帶寬:4nm
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754型紫外可見分光光度計

本產品適用于對紫外、可見光譜區域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業、食品、生化、環保、石油化工、醫療衛生及各科研等單位實驗室。
自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉換更快速。一階過零、一階線性標準曲線測試，最多可建立12個標樣點的標準曲線。標定曲線擬合，濃度直讀，可保存50條曲線參數。濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。系統時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數據接口,燈切換波長設置。

參數：

單色器:C-T式單色器，1200線全息光柵
檢測器:硅光二極管
顯示器:128×64大屏幕液晶顯示
光源:鹵鎢燈20W/12V，氘燈，光源切換波長可設定
光譜帶寬:4nm
波長范圍:190~1100nm（步進間隔0.1nm）
波長最大允許誤差±1.0nm（開機自動校準）
波長重復性:≤0.5nm
穩定性:暗電流＜0.2%T 、亮電流＜0.5%T
雜散光:≤0.3%T（在220、360nm處）
測定范圍:T：-1.0~200.0%T ，A：-0.5~3.000Abs，F：0~9999，C：0~9999
透射比最大允許誤差±0.5%T
透射比重復性:≤0.2%T
數據輸出:USB接口，LPT并行打印接口
電源:220V±10% 50Hz，70W
外形尺寸:456×375×220 mm
凈重:17.5kg

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客戶熱線：400-638-1718 （周一至周五8：30-17：00）技術支持：18121024458 傳真：021-54573837

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